В лаборатории молекулярной спектроскопии и оптики наноструктур введен в эксплуатацию новейший атомно-силовой микроскоп

АСМ-микроскоп NtegraEx с головкой SFC113NTF производства NT-MDT (Россия) предназначен для измерения топографии поверхности контактным и полуконтактным методами, а также изучения электрических и магнитных свойств поверхностей. Система позволяет выпонять силовую и электрическую литографию на поверхностях образцов.

Установка, наладка и обучение работе с атомно-силовым микроскопом специалистов физико-технического факультета проводились приглашенными специалистами фирм NT-MDT (Россия, http://www.ntmdt.ru) и Solar TII (Беларусь, http://www.solinstruments.com).

В дальнейшем планируется интеграция АСМ-микроскопа с конфокальным рамановским микроскопом Nanofinder S, находящимся в лаборатории, с целью создания установки для измерения зондово-усиленного комбинационного рассеяния света. Данная интеграция позволит проводить спектральные исследования с пространственным разрешением до 10 нанометров. 

АСМ-микроскоп NtegraEx производства NT-MDT (Россия)

На снимке: старший преподаватель кафедры общей физики Оскирко В.Ф. за работой на микроскопе

Пленка из латексных микросфер. Вверху - топография поверхности; по середине - фазовый контраст; внизу - топография поверхности после силовой литографии

 /p>

Топография поверхности слюды с нанесенными молекулами ДНК и бактериофагами

Амилоидные фибриллы инсулина на слюде. Слева - топография поверхности; справа - фазовый контраст

Литография напряжением на образце кремния. Слева - топография поверхности; справа - распределение электрического потенциала